菲希爾測厚儀Probe FAI 3.3-150筷子探頭

更新時間：	2024-09-22
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菲希爾測厚儀Probe FAI 3.3-150筷子探頭：任何一個電磁測量系統的核心都會是探頭，其信號質量Z終決定了計量方案的整體測量質量。進過多年的研發和創新，FISCHER現在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務中實現具有Z高。

Probe FAI 3.3-150菲希爾測厚儀Probe FAI 3.3-150筷子探頭的詳細資料：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區間	面議
應用領域	電子,交通,冶金,航天,汽車

菲希爾測厚儀Probe FAI 3.3-150筷子探頭

任何一個電磁測量系統的核心都會是探頭，其信號質量zui終決定了計量方案的整體測量質量。進過多年的研發和創新，FISCHER現在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務中實現具有zui高。

菲希爾測厚儀Probe FAI 3.3-150筷子探頭適合測量孔洞、管子、細槽（直徑需要大于等于9毫米）內的涂鍍層厚度測量。

一次測量的質量，主要由幾個關鍵因素決定。包括：選擇適當的探頭和探頭本身的質量等。Helmut FischerGmbH為您提供種類繁多而又品質的高精度探頭，所有探頭都是按照zui高的品質要求自行開發和生產。

鍍層/底材的種類是選擇探頭zui重要的依據。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。曲率補償探頭（渦流法）適用于不同曲面的樣品；雙觸點探頭能夠在粗糙的表面上得到的結果。FMP10、FMP20、FMP30、FMP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測量需求。

下面的圖表顯示了選擇探頭的標準流程。我們的探頭庫中擁有超過100種適合不同應用的探頭，除此之
外，Helmut Fischer GmbH還能為您的應用特別定制探頭。