DualScope FMP40校準步驟的詳細資料：

DualScope FMP40校準步驟

操作方法   
 
測量過程中始終握住探頭袖部（grip sleeve） z 測量中保持垂直，穩(wěn)定，恒力地將探頭接觸到被測工件表面，默認情況下，隨后儀器會發(fā)出“滴” 聲，并且在屏幕上顯示出讀數(shù) z 提起探頭，測量下一個讀數(shù) 

注：避免硬碰撞探頭不要在工件上方徘徊，這樣做會產(chǎn)生錯誤讀數(shù) 

校準  

校準是使用標(biāo)準片和底材對儀器進行調(diào)校，使測量結(jié)果準確的方法。 

 
按 CAL 鍵 
『S』：標(biāo)準偏差 『n』：測量次數(shù) 『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。 
在底材上測量 4-5 次。 按 ENTER 鍵 
『CAL-rat.1:23.70』: 在此將標(biāo)準片上的標(biāo)稱值通過∧、∨鍵輸入主機。 『ENTER: ∧∨』：在測量玩標(biāo)準片后按∧或∨鍵來輸入標(biāo)準值。 
在底材上放置標(biāo)準片 1（箔 1）→進行幾次測量 如果做 2 點校準，則標(biāo)準片由薄到厚 按 ∧,∨ 設(shè)置箔片厚度→ENTER(一直按住數(shù)字會快速跳動) 按 2 次 ENTER，完成調(diào)校。