德國EPK Elektrophysik代理 Minitest 2100測厚儀的詳細資料：
| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
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德國EPK Elektrophysik代理 Minitest 2100測厚儀
EPK公司
自1948年德國Steingoever博士發(fā)明*臺利用磁吸力原理的測厚儀以來，德國EPK公司一直是表面科技的*之一、是無損涂層厚度測量的。 ElektroPhysik公司(簡稱EPK)總部位于德國科隆，是生產(chǎn)表面檢測儀器的，有超過60年的市場經(jīng)驗，研發(fā)和生產(chǎn)了品種繁多的的測量儀器。質(zhì)量是EPK的主要目標，EPK從研發(fā)到使用、維修各個環(huán)節(jié)，都符合ISO 9001：2000質(zhì)量體系，始終為每一個應(yīng)用領(lǐng)域提供適合的產(chǎn)品。
EPK在不斷開發(fā)和創(chuàng)新科技產(chǎn)品過程中，贏得了良好的聲譽。作為無損檢測厚度行業(yè)的*，EPK與國內(nèi)的研究所和大學(xué)合作，實現(xiàn)了涂層厚度測量的成功發(fā)展和標準化。將來，EPK將全力發(fā)展自己的產(chǎn)品以符合zui高技術(shù)要求。
化的今天，EPK在世界各地都設(shè)有自己的分支機構(gòu)和經(jīng)銷商。
德國EPK Elektrophysik代理 Minitest 2100測厚儀
主機可選：
MiniTest 1100涂層測厚儀主機
MiniTest 2100涂層測厚儀主機
MiniTest 3100涂層測厚儀主機
MiniTest 4100涂層測厚儀主機
所有主機具有以下技術(shù)特點：
·可配接所有測頭
·可通過RS-232接口連接微型數(shù)據(jù)打印機MiniPrint和PC
·可使用1片或2片標準箔校準
探頭可選：
·F型測頭：應(yīng)用磁感應(yīng)原理，測量鋼鐵基體上的非磁性覆層，稱作磁性測頭。
·N型測頭：應(yīng)用電渦流原理，測量有色金屬基體上的絕緣覆層，稱作非磁性測頭。
·FN型兩用測頭：同時具備F型和N型測頭的功能。
型號 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量 | ||||
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) | 1 | 1 | 10 | 99 |
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，可設(shè)寬容度極限值) | - | 1 | 10 | 99 |
可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù) | - | 1 | 500 | 500 |
數(shù)據(jù)總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
MINITEST統(tǒng)計計算功能 | ||||
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar | - | √ | √ | √ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar | - | - | √ | √ |
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | - | - | √ | √ |
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) | - | - | - | √ |
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值 | - | - | √ | √ |
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 | - | √ | √ | √ |
其他功能 | ||||
透過涂層進行校準(CTC) | - | √ | √ | √ |
在粗糙表面上作平均零校準 | √ | √ | √ | √ |
利用計算機進行基礎(chǔ)校準 | √ | √ | √ | √ |
補償一個常數(shù)(Offset) | - | - | √ | √ |
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 | - | √ | √ | √ |
保護并鎖定校準設(shè)置 | √ | √ | √ | √ |
更換電池是存儲數(shù)值 | √ | √ | √ | √ |
設(shè)置極限值 | - | - | √ | √ |
公英制轉(zhuǎn)換 | √ | √ | √ | √ |
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值 | - | - | √ | √ |
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) | - | - | √ | √ |
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 | √ | √ | √ | √ |
組內(nèi)單值延遲顯示 | - | √ | √ | √ |
連續(xù)測量模式中顯示zui小值 | √ | √ | √ | √ |
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